Author: LEWIS M. TERMAN
Title: Condensed guide for the Stanford revision of the Binet-Simon intelligence tests
Description: Boston-New York-Chicago-San Francisco, Houghton Mifflin Company, 1920, Relié, in-8. 32 pp. Tampons. Taches de scotch sur les 1ères et denières pages. Découpe aux ciseaux (manques) sur les pages de titre. Reliure toile usée sur les coiffes. Condition: Etat moyen

Keywords: